系統能通過配置不同老化板來滿足IGBT模塊等半導體分立器件的高溫反偏的可靠性測試和老化篩選。上下橋同時加載偏置電壓,更快速更均勻
┃ 高溫箱
┃ 試驗電源
高精度電源-Max±2000V;
┃ 驅動板
電壓監測范圍:0.0V~±2000.0V;分辨率:0.1V;
精度:±(0.5‰+1V);
漏電流檢測范圍:1.0uA~50mA;分辨率:0.01uA;
精度:±(1%+0.01uA);