貼合AQG-324 / AEC-Q101標準設計開發;
適用于IGBT、DIODE、MOSFET等功率半導體器件的K系數測試、熱阻測試,為設計優化、安全防護、節能降耗和技術創新提供科學依據。
┃ 容量 | 3個試驗平臺;整機最多支持12個試驗工位; |
┃ 試驗電源 | (600A~1000A 多款型號可選 恒流源) * 3臺; |
┃ 驅動板數量 | 3塊; |
Vg柵極電壓配置: 單工位獨立配置柵極電源; 范圍:-20.00V~+20.00V 精度:±(1%RD+0.01V) | |
Im控制: 范圍:10mA~2000mA;精度:±(0.5%FS+0.5mA) 電壓檢測 : 范圍:0~8V;精度:±(1%RD+0.01V) | |
殼溫控制精度: 20~100℃;精度:1%±1℃ | |
水箱控制溫度: 10~80℃;波動度:±0.5℃ | |
水路流量: 最大單平臺20L/min;60L/min整機 |