適用于各種封裝形式的模擬、數字、數模混合集成電路,包括存儲器、超大規模集成電路等
IC器件的高溫動態老煉篩選和壽命試驗。
┃ 高溫試驗箱 | R.T.~150℃ |
┃ 容量 | 16通道 |
┃ Pattern Generator (數字信號) | Test Rate:20Mhz |
I/O channel ( 單通道 ):64路(DRV.) | |
Vector Memory(向量深度):8Mbit(per pin) | |
Driver Vih/Vil:+2V~+15V / ≤0.7V | |
Tr/Tf:≤10ns | |
Driver Current:±100mA | |
┃ Analog function generator(模擬信號) | TYPE:正弦波、矩形波、三角波、前后鋸齒波 |
Channel:4路 | |
Rate:10hz~1Mhz | |
Vp-p:±1V~±10V( ≤100Khz );±1V~±5V ( 100KHz~1MHz ) | |
Vbias:0~±1/2VPP( |偏移量+峰值(谷值)| ≤15V ) | |
Driver Current:1A | |
┃Monitor channel | 64ch ( DC + Freq ) , Voh≤15V / Vol≤15V |
┃ DPS(二級電源) | 3ch per BIB;+2V~+18V/10A x2ch,-2V~-18V/10A |
┃ 其他信息 | BIB板尺寸:280mm*598mm |
電網要求:AC 380V/50Hz |