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0571-85123400
中安
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BTI-T3000(16通道)
集成電路高溫動態老化系統--基礎款

適用于各種封裝形式的模擬、數字、數模混合集成電路,包括存儲器、超大規模集成電路等

IC器件的高溫動態老煉篩選和壽命試驗。


 高溫試驗箱

R.T.~150℃

 容量

16通道

 Pattern  Generator

(數字信號)

Test Rate:20Mhz

I/O channel ( 單通道 ):64路(DRV.)

Vector Memory(向量深度):8Mbit(per pin)

Driver Vih/Vil:+2V~+15V / ≤0.7V

Tr/Tf:≤10ns

Driver Current:±100mA

 Analog function generator(模擬信號)

TYPE:正弦波、矩形波、三角波、前后鋸齒波

Channel:4路

Rate:10hz~1Mhz

Vp-p:±1V~±10V( ≤100Khz );±1V~±5V ( 100KHz~1MHz )

Vbias:0~±1/2VPP( |偏移量+峰值(谷值)| ≤15V )

Driver Current:1A

Monitor channel

64ch ( DC + Freq ) , Voh≤15V / Vol≤15V

 DPS(二級電源)

3ch per BIB;+2V~+18V/10A x2ch,-2V~-18V/10A

 其他信息

BIB板尺寸:280mm*598mm


電網要求:AC 380V/50Hz


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