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產品詳情

BTD-T886(光電器件/光通訊模塊)

光電耦合器老化系統(OC)

統能滿足各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）和光電耦合器、發光二極管等元器件的穩態壽命試驗和功率老煉篩選。系統的整個試驗過程采樣程控方式進行，對溫度與電源進行程控調節。系統對產品的輸入端進行老練與高溫反偏，通過調整輸入端不同條件來模擬產品的不同使用過程，全程監控產品的漏電流與電壓，溫度等參數。

┃ 高溫試驗箱	R.T.~（175℃ / 200℃）；溫度均勻性：150℃±3℃(空載)；

┃ 容量	16個試驗通道；單板64個工位 / 整機1024工位（視具體情況而定）；

┃ 試驗電源	配置16臺（一臺電源對應一個試驗區）Max 100.0V；

┃ 驅動板數量	16塊；
	電壓檢測范圍：輸入端：0V～100V,分辨率：0.01V
	電流檢測范圍： 1.0mA～250.0mA,分辨率：0.01mA 脈沖頻率范圍：10.0kHz~100.0kHz，占空比50%；

產品參數

容量: 獨立試驗區數量

標配4個（可增至8個區）; 試驗通道

16個; 總容量

整機老化發光二極管時為1024個（串聯時更多）；整機老化光電耦合器時，單光耦為896個，雙光耦為448個，四光耦為228個（串聯時更多）

驅動檢測板: 驅動板數量

16塊; 試驗電壓檢測

范圍：0.0V～50.0V；精度：±1％＋0.1V; 試驗電流檢測

范圍：0.0mA～200.0mA；精度：±(1％＋1LSB); 電子負載數量

單通道56路 / 整機896路; 負載電流范圍

0～200mA

整機信息: 尺寸

1300W*1200D*1900H(mm); 電網要求

A.C.220V±10％ / 50Hz; 功率 / 重量

8KW / 600KG

其他型號