用于半導體元器件與標準老化板之間的自動上下料,以及半導體器件與老化座的自動化裝配、自動測試、下料挑片、標記打包等
┃ FT測試功能
可對物料進行上料測試分選,
并接駁老化試驗系統數據結合在線測試
數據進行下料測試分選
┃ 支持多種外掛(選裝)
支持單盤JEDEC標準
TRAY(L315*W136*7.5mm );
支持Auto Tray組件
和Tube料管入料等
┃ 選裝多種出供料模式
1.上料模式;
2.下料模式;
3.包裝轉換模式