適用100A~500A的IGBT/SiC模塊的老化測試篩選,可以模擬各種工況條件,
如啟動電流、運行電流、堵轉電流等,對DUT器件進行動態功率循環測試,
顯示各種工況下的電壓、電流、溫度等信息。
快速篩選出不合格的芯片和封裝工藝缺陷,提高產品的使用可靠性。
設備采用模塊化設計,結構簡單,使用和維護方便。