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0571-85123400
中安
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BTI-X3600 (≤50W 獨立溫控)
50W以下SoC/MCU/FPGA等老化測試系統--獨立溫控

數字信號Driver模塊采用先進TDBI技術，可在-40℃~150℃的環境下，對所有≤50W集成電路IC（車規級MCU、SoC、FPGA、CPU等不同封裝類型）器件進行高溫動態測試和壽命評估試驗的同時，建立其失效模型，分析其失效機理。


┃ 高溫試驗箱

2；-40℃~150℃；5000W per chamber

┃ 獨立溫控

24DUT (20W) / 6-9DUT (50W)；accuracy：±2℃

┃ 容量

16*2 Slot；Temperature Zone*2

┃ Pattern Zone

32

┃ Slots Pitch

72mm

┃ BIB Size

564mm*610mm

┃ System Repetition Rate

20MHz (Maximum)

┃ Vector Memory

64M Words

┃ Error Log

2K (Per I/O)

┃ Driver

VH 0.6~4.0V (2 Level)

┃ Receiver

0.6~4.0V (VRH,VRL)

┃ DPS

8 supplies

 0.0~9.5V, 2mV resolution

 Maximum output: 60A, 240W

 Accuracy: ±0.3% of output voltage±10mV

 Ripple & noise:30mV peak to peak


2 supply

 0.0~5.0 V, 2 mV resolution


專用型設備

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