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0571-85123400
中安
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BTD-T810(IOL-△Tj測試)
間歇壽命試驗系統IOL

貼合AEC-Q101標準要求開發設計,

功能覆蓋二極管、三極管、MOS管、IGBT單管等Si / SiC / GaN分立器件的間歇壽命試驗IOL

和穩態壽命試驗CFOL;系統可直觀監測IOL試驗全過程中每個DUT的△Tj。


 風冷試驗腔

16通道;室溫風冷型



 容量

串聯模式:單板 80 工位同時檢測△Tj / 整機1280工位;

并聯模式:單板 48 工位同時檢測△Tj / 整機 768工位



 試驗電源

0~60V/2400W)*16臺



 驅動檢測板

 

數量:               16塊

恒流源:            單板4路20A恒流源輸出,并聯可達60A,可用于IGBT單管;

試驗電壓檢測:  0.00V~99.9V;精度:±(1% + 1LSB);

Id檢測范圍:     0.1A~20.0A(二極管/MOS/IGBT);0mA~400mA(三極管/MOS)

Vf檢測精度:     ±1mV

Im發生范圍:     0~99.9mA ; 精度:±(1% + 1LSB)

Tj結溫測試:      20℃~175℃;精度:±(1% + 1LSB)


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