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我司將于2024年5月7日-9日參加第六屆全球半導體產(chǎn)業(yè)(重慶)博覽會

發(fā)布時間:2024-05-06 信息來源: 瀏覽次數(shù):1371

我司將于2024年5月7日-9日參加第六屆全球半導體產(chǎn)業(yè)(重慶)博覽會

本次展會,除了我司傳統(tǒng)的老化臺(HTRB、HTGB、H3TRB、IOL、Power Cycling .etc)介紹外,

還帶來了全新的3+1項目:

中小功率超大規(guī)模集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)(全面對標DI)

AC無功功率老化測試系統(tǒng)(SiC/IGBT模塊)

SiC Wafer Level 晶圓級老化測試系統(tǒng)

DHTRB/DHTGB 動態(tài)高溫反偏/動態(tài)高溫柵偏老化試驗系統(tǒng)

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歡迎各位新老客戶來現(xiàn)場蒞臨指導,

地址:重慶市渝北區(qū)悅來大道66號重慶國際博覽中心

時間:2024年5月7-9日


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