行業/方案背景
隨著電子技術的迅猛發展,電子元器件越來越廣泛地用于工業自動化控制、計算機、戰略武器系統、航天航空用電子設備和民用電子產品等。特別是半導體分立器件，因此提高分立器件的可靠性也就顯得越來越重要,已經受到世界各國電子行業的高度重視，認為這是提高電子產品聲譽和競爭力的關鍵。
理論上說,半導體器件的失效要比電子設備本身失效來得遲，但由于在結構精細、制造工藝復雜、工序繁多的生產過程中，不可避免地會給器件留下潛在的缺陷，而使器件的可靠性水平不能達到設計中的預定要求。此種缺陷一般分為二類，一類是質量缺陷：即用一般的測試和質量控制手段可以發現的缺陷。如器件的芯片裂紋，表面粘附粒子，缺鋁等。另一類是潛在缺陷：即用一般的測試和質量控制手段是不能發現的，須對元器件施加應力(包括電,熱等)，使缺陷激活并加速暴露，使元器件產生"早期失效"(所謂"早期失效"就是缺陷受到激活并對器件產生不良影響)。如：硅片表面沾污，焊接空洞，芯片和管殼熱阻匹配不良等。
方案概述
如果對每個元器件都進行1000h試驗,一般來說是不經濟的,也是不可行的。為了能盡快地，有效地剔除存有各種缺陷的元器件，這就需要加應力老化。實踐證明,如果對元器件施加相應的應力進行老化,就能加速使器件產生早期失效。
半導體分立器件在生產過程中由于選材、設計及工藝中存在缺陷而產生的介質擊穿、局部熱點、漏電流增大、漏液等失效模式。設備可以根據MIL-STD-750、GJB-128等試驗方法的要求，對分立器件施加溫度應力、電應力和時間條件，激活被試驗器件，迅速暴露器件潛在缺陷而提早進入早期失效期。
解決方案價值/亮點
杭州中安電子有限公司集國內電子元器件老化篩選設備研制和生產之精英，從事各類電子元器件老化設備研究和開發已有多年歷史，為提高我國軍用重點工程和武器裝備配套用電子元器件的可靠性做出了一定成績，已完成了電子部下達的多個科研項目。公司不斷汲取國外同類產品優點和廣大用戶的寶貴意見，
現以最新概念和面貌推出的針對各種電子元器件的高溫老化系統，必將為提高我國各類分立器件的使用可靠性帶來積極的推動作用。是廣大元器件生產廠、研究所及其它所有器件使用單位理想的老化篩選設備
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